低コストで手間いらずな異常検知ソリューションの提案例として、
深層強化学習を利用した最先端の最適化手法を用いて、エッジデバイス上で少量データで異常検知するデモシステムを構築しました。 少量のデータで高精度な認識を可能にするFew-shot learningを用いることで 学習データの準備を容易にしています。深層強化学習による最適で手間を削減し、 低コストで手間いらずな異常検知を可能にしました。

【出展イベント】
総合技術展 ET・IoT Technology NAGOYA 2020 (公式サイト)

日時：
2020年 2月5日（水）〜6日（木）

会場：
吹上ホール（名古屋市中小企業振興会館）